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zoom RSS 参考文献一覧 アノーディックストリッピングボルタンメトリーのヒ素の測定と土壌汚染

<<   作成日時 : 2007/08/09 01:20   >>

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最近、金薄膜カーボン電極ストリッピングボルタンメトリーの勉強と、土壌汚染対策法に係わる土壌含有量試験溶液のためのヒ素測定をまとめておりましたので、調べた参考文献一式を防備録としてアップしておきます。


土壌汚染対策法(平成14年5月29日, 法律53).
環境省告示19号による標準物質の分析
社団法人日本分析化学会「土壌分析技術セミナー」実行委員会: 分析化学, Bunseki Kagaku, 53, 1177 (2004).

環境省告示19号(含有量試験:1M塩酸抽出)
土壌含有量調査に関わる測定方法を定める件(平成15年3月6日, 環境省告示19号).

環境省告示18号
土壌溶出量調査に係る測定方法を定める件(平成15年3月6日, 環境省告示18号).


環境省告示46号(溶出試験:水による6時間振とう)
土壌の汚染に係る環境基準について(平成3年8月23日, 環境省告示46号)


土壌汚染調査(重金属等)における簡易で迅速な分析技術
http://www2.kankyo.metro.tokyo.jp/chem/dojyo/kanizinsoku4.htm


川辺能成,駒井武,坂本靖英:資源と素材,119, 489(2003).


金薄膜電極ストリッピングボルタンメトリーによる環境水中砒素(Cuイオン除去)
Yang Song, Greg M. Swain:Analytica Chimica Acta, 593, 7 (2007).

ボルタンメトリーにおけるCuの除去
T.W. Hamilton, J. Ellis, T.M. Florence, Anal. Chim. Acta 119, 225 (1980) .

金微少電極ボルタンメトリーによるヒ素の形態別分析
Pascal Sala¨un a, Britta Planer-Friedrich, Constant M.G. van den Berg:Analytica Chimica Acta 585,312 (2007).


カソーディックボルタンメトリー によるSe, As分析
Clinio LocatelliU, Giancarlo Torsi: Microchemical Journal, 65, 293 (2000).

Clinio Locatelli, Giancarlo Torsi: Journal of Electroanalytical Chemistry 509 80 (2001).


ボルタンメトリーによる環境水中砒素の測定について
Rosemary Feeney, Samuel P. Kounaves:Talanta 58, 23 (2002).


土壌標準物質JSAC(含有量データ付き)
山崎慎一,平井昭司,西川政高,高田芳矩,鶴田暁,柿田和俊,小野昭紘,坂田衛:分析化学(Bunseki Kagaku), 51, 269 (2002)

ロバスト法(Round-Robin Analysis)
JIS Q 0043-1 付属書A.


AsのKI還元法(JIS記述)


ASV法色々

G. Forsberg, J.M. O’Laughlin, R.G. Megargle, Anal. Chem. 47, 1586 (1975).

P.H. Davis, G.R. Dulude, R.M. Griffin, W.R. Matson, E.W. Zink, Anal Chem, 50, 137 (1978).

T.W. Hamilton, J. Ellis, T.M. Florence, Anal. Chim. Acta 119 (1980)
225.233.

S.W. Lee, J.C. Meranger, Anal. Chem. 53 (1981) 130.131.

E.A.Viltchinskaia, L.L. Zeigman, D.M. Garcia, P.F. Santos, Electroanalysis
9 (1997) 633.640.

H. Huang, P.K. Dasgupta, Anal. Chim. Acta 380 (1999) 27.37.

R. Feeney, S.P. Kounaves, Anal. Chem. 72 (2000) 2222.2228.

A.I. Kamenev, S.E. Orlov, A.B. Lyakhov, J. Appl. Electrochem. 56 (2001)
850.854.

R. Feeney, S.P. Kounaves, Talanta 58 (2002) 23.31.

R. Prakash, R.C. Srivastava, P.K. Seth, Electroanalysis 15 (2003)
1410.1414.

E. Munoz, S. Palmero, Electroanalysis 16 (2004) 1528.1535.

X. Dai, O. Nekrassova,M.E. Hyde, R.G. Compton, Anal. Chem. 76 (2004)
5924.5929.

A.O. Simm, C.E. Banks, R.G. Compton, Anal. Chem. 76 (2004)
5051.5055.


A.O. Simm, G.E. Banks, S.J. Wilkins, N.G. Karousos, J. Davis, R.G.
Compton, Anal. Bioanal. Chem. 381 (2005) 979.985.


X. Dai, R.G. Compton, Electroanalysis 17 (2005) 1325.1330.


ASVによるAs測定における妨害イオンの影響

A.O. Simm, C.E. Banks, R.G. Compton, Anal. Chem. 76 (2004)5051.5055.

X. Dai, R.G. Compton, Electroanalysis 17 (2005) 1325.1330.

A. Cavicchioli, M.A. La-Scalea, I.G.R. Gutz, Electroanalysis 16 (2004)697.711.

A.O. Simm, C.E. Banks, R.G. Compton, Electroanalysis 17 (2005)1727.1733.


分子認識固相抽出法総論など MRT-SPE


高久雄一:ぶんせき(Bunseki), 605 (2004)

R.M.Izatt, J.S.Bradshaw, R.L.Bruening, M.L.Bruening, American Laboratory, December (1994)

A. Sabarudhin, et. al, Spectroscopy Lettrs, 39, 669 (2006)


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